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專注環(huán)境試驗設(shè)備的研發(fā)與生產(chǎn)
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基于Latin方抽樣和修正的Latin方 基于 Latin 方抽樣和修正的 Latin 方抽樣的可靠性試驗靈敏度估計及其方差分析 MCKay在文獻(xiàn) [1] 中第一次提出 Latin 方抽樣方法，指出它是一種有效而實用的受約束小樣本采樣技術(shù)。 Latin 方抽樣合并了隨機(jī)抽樣和分層抽樣的優(yōu)點，是最好的小樣本 MonteCarlo 模
可靠性試驗靈敏度分析方法2 可靠性試驗靈敏度分析方法 2 定義在所有微元體與結(jié)構(gòu)失效邊界的交點中概率密度最大的點為近似設(shè)計點，由均值點到近似設(shè)計點的單位方向向量為重要方向 。 以 表示過 中心 點 且垂直于 重要方向 的超平面， 由 式確定 其中 和 分別表示 和 的第 個分量。 定義
可靠性試驗靈敏度分析方法1 可靠性試驗靈敏度分析方法 1 在標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)空間中，笛卡兒坐標(biāo)系下任意隨機(jī)向量 可以用極坐標(biāo)表示為 ，式中 為極半徑， 為 的單位方向向量。 是由函數(shù) 確定的，則根據(jù)隱式函數(shù)求導(dǎo)法則可得 [5] 其中 。 對于二維變量情況，將式代入式可以得到結(jié)構(gòu)的可靠性試驗靈
可靠性試驗靈敏度分析的降階積分法 可靠性試驗靈敏度分析的降階積分法 可靠性試驗靈敏度定義為失效概率對基本隨機(jī)變量分布參數(shù)的偏導(dǎo)數(shù) [3,4] 。失效概率對第 個變量 的分布參數(shù) 的可靠性試驗靈敏度可表示成式所示的形式。 在 5.1 節(jié)中已經(jīng)給出了原坐標(biāo)空間轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)坐標(biāo)空間的失效概率的
多模式的降階積分法 多模式的降階積分法 降階積分法同樣能夠求解結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效概率，設(shè)系統(tǒng)由 個失效模式組成，對結(jié)構(gòu)系統(tǒng)按照單模式的情形將坐標(biāo)空間離散為眾多微元體，與單模式不同的是每個微元體與結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效域的交點處的特征半徑（仍以 表示之）需按下面的方法確定。
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