設計用于測量背向反射（回損）對轉發器原型影響的可變背向反射器。
主要優點
55 dB反射范圍
輕松的實時操作
OSICS平臺內的單插槽模塊
應用
模擬非配對連接器的累積反射
回損測量校準
元器件測試
激光器開發和生產
OTDR測試
描述
EXFO的OSICS BKR可變背反射器可模擬光纖系統內所有光接口上的反射率。它是測試背向反射對應答器原型造成的影響，以及在PON/WDM系統中對發射器和接收器進行壓力測試的完美研發工具。
大反射范圍
OSICS BKR集成有可變反射器，它可設置為3至55 dB，并在很大的波長范圍內工作。其大反射范圍使您能夠采用單臺儀表涵蓋任何設置。
輕松的實時操作
可在用戶友好的前面板顯示屏上實時調整或讀取反射率。
新增功能
EXFO的OSICS模塊配備多個出色的功能，包括遠程命令、高性能可調諧激光源、光開關以及能夠容納多達8個模塊等。
